一、概述
介质损耗和介电常数是各种电磁、装置瓷、电容器等陶瓷的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε）可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。
仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐回路的残余电感减至低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时为方便，测量值为。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属材料性能的应用研究。
二、仪器的技术指标
1. 信号源：DDS数字合成 10KHZ-70MHz
2. 采样：11BIT
3. Q测量范围：1-1000自动/手动量程
4. Q分辨率：0.1
5. Q测量工作误差 <5%
6. 电感测量范围：分辨率0.1nH 1nH-8.4H , 分辨率0.1nH
7. 电感测量误差 <3%
8. 调谐电容：主电容30-540pF
9. 电容直接测量范围：1pF～2.5uF
10. 调谐电容误差：±1 pF或<1% 0.1pF
11. 谐振点搜索：自动扫描
12. Q合格预置范围：5-1000声光提示
13 LCD显示参数：F，L，C，Q，Lt，Ct波段等
14. 介质损耗系数：万分之一
15. 介电常数：千分之一
16. 材料测试厚度：0.1mm-10mm
